股票代码:65187

最新:188.83

涨跌额:

中文

半导体功用测验根底术语

时间: 2024-03-24 17:45:58 |   作者; 开云体育网页版官方网站

  期间让测验通道的输出比较功用翻开或封闭的办法,可以针对独自的pin在独自的周期施行。

  Output Sampling 输出采样,在功用测验中,DUT的输出信号在周期内的某个时刻点被评价的进程。PE卡上的比较电路会将输出电压和预先设定的逻辑1(VOH)和逻辑0(VOL)相比较,然后检测体系做出pass或fail的判别。Output Sampling也称为“Strobing”。

  Test Pattern 测验向量(国内许多材料将其译为“测验形式”),是器材一系列所规划的逻辑功用的输入输出状况的描绘。输入数据由检测体系供给给DUT,输出数据则用于和DUT的输出呼应相比较。在功用测验期间,测验向量施加到DUT并运转,当其间的一个希望输出与器材的实践输出不匹配时,一个failure就发生了。Test pattern也称为“Test Vectors”或“Truth Tables(真值表)”。Test Vectors的说法更着重时序性,指逻辑电平的一系列0、1序列或其他表征。

  Signal Format 信号格局,PE驱动电路供给的输入信号的波形。

  功用测验是验证DUT是否能正确完成所规划的逻辑功用,为此,需生成测验向量或真值表以检测DUT中的过错,真值表检测过错的才能可用毛病覆盖率衡量,测验向量和测验时序组成功用测验的中心。

  当履行功用测验时,一定要考虑DUT功用的一切方面,有必要仔细检查下列项的精确值:

  从上表可以精确的看出,在功用测验中需求使用检测体系的大部分资源,一切的功用测验都有两个不同的部分所组成,主测验程序中的测验向量文件和指令集。测验向量文件代表需测验的DUT的输入输出逻辑状况,测验程序包含操控测验硬件发生必需的电压、波形和时序需求的信息。